LED快速溫變試驗系統(tǒng)是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個循環(huán)，溫度循環(huán)試驗的嚴苛程度是以高/低溫度范圍、停留時間以及循環(huán)數(shù)來決定的。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、GJB150.5等
技術(shù)參數(shù)：
系統(tǒng)組成：
整套老化系統(tǒng)由1臺快速溫變試驗箱搭配一臺程控多通道老化電源，整套系統(tǒng)共提供40PCB端口。
老化原理：
通過老化排線連接程控多通道LED老化電源與環(huán)境試驗箱，老化排線一端(36p連接器端)插在程控電源輸出端口，另一端(金手指端)通過試驗箱進線孔進入箱體內(nèi)，固定在高溫老化治具上。
進行老化試驗時候，只需將老化板插在試驗箱內(nèi)金手指上，設(shè)置相應(yīng)實驗參數(shù)即可開始試驗。
產(chǎn)品特點：
1.可以對LED模組在-40℃~150℃溫度范圍內(nèi)以15℃/S溫度升降溫速率變化下的強化加速測試，實現(xiàn)了在高低溫環(huán)境下對多通道LED模組的單獨測試。
2.可以在大范圍快速溫變環(huán)境下對LED模組的光學(xué)參數(shù)的測試，提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，測試結(jié)果能夠真實反映OLED模組的質(zhì)量情況。
3.整套試驗系統(tǒng)由軟件控制完成整個測試流程，測試過程無需依賴于人工方式，可以完全自動化進行，檢測過程的效率高。
如有LED快速溫變試驗系統(tǒng)的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
