LED的理論壽命超過lO萬小時，在實際使用中，大電流、高溫和高濕等都會產(chǎn)生和放大LED芯片的缺陷，加速燈具的老化速度。使用LED高溫高濕可靠性試驗箱對其進(jìn)行老化試驗箱，從而了解燈具的壽命特征、失效原因和失效模式，對LED燈具的可靠性設(shè)計和質(zhì)量改進(jìn)提供依據(jù)。
技術(shù)參數(shù)：
試驗原理：
當(dāng)LED燈具工作在高溫高濕的環(huán)境中，容易出現(xiàn)失效性破壞，其中高溫會加劇濕度對LED的破壞。濕度場的平衡時間遠(yuǎn)高于溫度場，雖然濕應(yīng)力相對熱應(yīng)力較小，但同樣會對LED的可靠性造成影響，同時由于熱應(yīng)力影響燈具的密封性，濕氣可能會透過LED路燈的密封膠或其它縫隙進(jìn)入燈具內(nèi)部，造成對燈具組件的腐蝕以及封裝材料特性的改變，進(jìn)而改變光傳輸途徑，降低光效。
相關(guān)試驗標(biāo)準(zhǔn)和要求：
1AEC-Q 102 之LED的高溫高濕工作壽命
該標(biāo)準(zhǔn)使用高溫度、高濕度以及施加偏置的方法，加速環(huán)境水汽透過外部保護(hù)材料或沿著外部保護(hù)材料和連接它的金屬導(dǎo)體之間的界面滲透到器件內(nèi)部，暴露器件可能存在的不足。最常見的高溫高濕條件為雙85，也就是85℃/85%RH。
AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)
車規(guī)級LED器件最常見的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)就是由美國汽車電子委員會（AEC）發(fā)布的AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)（方法參考JESD22-A101D.01）。
其要求LED需在降額曲線中最大電流以及結(jié)溫變化小于3k兩個要求下進(jìn)行1000小時的高溫高濕工作壽命，試驗中必須監(jiān)控電流電壓，以免過流導(dǎo)致結(jié)溫過高燒壞器件。
如有LED高溫高濕可靠性試驗箱選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
