對于 LED 光源的可靠性失效分析，一般采用加大應(yīng)力 (如高溫應(yīng)力和濕度應(yīng)力等) 的方法對樣品進行加速老化 ，這樣可在短時間內(nèi)得到樣品失效信息并對其可靠性進行分析。下面，我們以高溫應(yīng)力和濕度應(yīng)力作為常見的老化條件，為大家講解LED光源在高溫高濕條件下的失效原理。
LED高溫高濕失效應(yīng)力分析：
試驗設(shè)備：環(huán)儀儀器 LED光源溫濕度應(yīng)力試驗箱
試驗標(biāo)準(zhǔn)：JESD 22-A101C、IEC60068-2-30等
試驗方式：
LED在溫濕度下的工作壽命試驗是利用恒定的溫度、濕度和電流對進行加速老化，根據(jù)試驗結(jié)果得出在此溫濕度下的工作壽命。
① 高溫高濕工作壽命(WHTOL): 評估 LED 封裝在工作期間因溫度和濕度引起的應(yīng)力下的性能。使用高溫、高濕度的方法，加速環(huán)境水汽透過外部保護材料或沿著外部保護材料和連接它的金屬導(dǎo)體之間的界面滲透到器件內(nèi)部，可能導(dǎo)致可靠性降低。
WITOL是LED 電子元器件中最常見也最重要的評估試驗。最常見的高溫高濕條件為雙 85，即溫度為 85℃，濕度為85% RH。LED 封裝應(yīng)根據(jù) JESD 22-A101C 進行試驗:每項試驗應(yīng)至少使用3個不同批次的78 個 LED 封裝每批次為 26個。在最大額定工作電流下通電，1h開，1 h 關(guān)為一個循環(huán)，循環(huán)持續(xù) 1 000 h，試驗溫度為 85 ℃、相對濕度為 85%。
②濕熱循環(huán)(DHC): 評估 LED 封裝在溫度和濕度循環(huán)引起的應(yīng)力下的性能，LED封裝應(yīng)根據(jù) IEC60068-2-30 進行試驗。
如有LED光源的濕熱試驗疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
