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隨著LED芯片功率的不斷增加和LED模塊尺寸的不斷減小，LED模塊在發(fā)光過(guò)程中的產(chǎn)熱量越來(lái)越多，如果不及時(shí)消散，會(huì)嚴(yán)重影響LED模塊的壽命和可靠性，因此，LED
《QC/T 1228-2025 車(chē)用有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）照明光源試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)即將實(shí)施，新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)車(chē)用OLED燈的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)要求也將更加嚴(yán)格。OLED的
LED組件快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱是適用于LED模組、模塊、燈珠、燈絲、燈帶等產(chǎn)品，用于進(jìn)行溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)和應(yīng)力篩選試驗(yàn)。該設(shè)備符合MIL-ST
LED模塊ESS(Environmental Stress Screening，ESS)可靠性試驗(yàn)設(shè)備的應(yīng)力篩選試驗(yàn)可以暴露產(chǎn)品的潛在缺陷，以避免該產(chǎn)品在使用過(guò)
LED燈ESS應(yīng)力篩選系統(tǒng)的溫度循環(huán)應(yīng)力篩選試驗(yàn)，是通過(guò)設(shè)定的溫度變化與速率能夠加強(qiáng)產(chǎn)品熱脹冷縮程度和加快頻次，增強(qiáng)產(chǎn)品的熱應(yīng)力，而循環(huán)次數(shù)增加能夠累積這種效應(yīng)
LED環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱是針對(duì)LED產(chǎn)品施加環(huán)境與工作應(yīng)力，例如溫度、濕度等，將正常生產(chǎn)流程中的功能檢測(cè)無(wú)法測(cè)出之潛在瑕疵暴露出來(lái)，從而盡早發(fā)現(xiàn)并將之剔除，以減
LED 產(chǎn)品在前期研制過(guò)程中，環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)項(xiàng)目選擇溫度循環(huán)應(yīng)力篩選方案，是試驗(yàn)過(guò)程的重要一環(huán)。溫度循環(huán)應(yīng)力篩選試驗(yàn)是通過(guò)設(shè)定的溫度變化與速率能夠加強(qiáng)產(chǎn)品熱脹
在電路板上焊接安裝的LED ，當(dāng)安裝電路板在溫度變化較大的驅(qū)動(dòng)條件或環(huán)境下使用時(shí)，會(huì)因?yàn)長(zhǎng)ED 外封裝和電路板的線膨脹系數(shù)不同導(dǎo)致各自的膨脹、收縮程度出現(xiàn)差異，
