《SJ/T 11379-2008 等離子體顯示器件 第4部分：氣候和機械試驗方法》標準

SJ/T 11379-2008 是等離子體顯示器件的標準，該標準詳細規(guī)定了等離子體顯示器件的氣候和機械試驗方法。該標準旨在確保等離子體顯示器件在各種氣候和機械條件下都能正常工作，并且具有一定的可靠性和穩(wěn)定性。

一、范圍：
本部分規(guī)定了氣候和機械的試驗方法。

本部分適用于彩色等離子體顯示模塊（以下稱等離子體顯示器件）。

二、試驗項目：
高低溫試驗、溫濕度循環(huán)試驗、恒定濕熱試驗、低氣壓試驗、振動試驗、沖擊試驗等。

三、試驗設備：
恒溫恒濕試驗箱、低氣壓試驗箱、振動試驗機、沖擊試驗臺等。

四、設備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

高溫貯存試驗：
a)試驗用箱體內的溫度應與實驗室內溫度一致。當?shù)入x子體顯示器件與實驗室環(huán)境溫度一致后可按照5.6的要求送入試驗用箱體，除非另有要求;

b)將箱體內溫度升至要求嚴酷程度所對應的溫度,并允許經過一定的時間以使等離子體顯示器件達到溫度穩(wěn)定狀態(tài)（GB/T 2421-1999的4.8定義了溫度穩(wěn)定性)。箱體內5 min內的平均溫度變化的速度不超過3℃/min。試驗溫度應按照GB/T 2421-1999中4.6的要求進行測試;

c)將等離子體顯示器件暴露于該高溫環(huán)境中，并且存放相關規(guī)范所規(guī)定的時間。當溫度穩(wěn)定時即開始計時;

d)如果相關規(guī)范有要求，可按6.1.4進行中間測量;

e)試驗時間到達后,等離子體顯示器件應留在箱體內并將溫度逐步降至測量用標準大氣條件所規(guī)定的值。箱體內5min內的平均溫度變化的速度不超過3℃/min。該過程結束后，等離子體顯示器件應在箱體內進行恢復過程或其他適當過程。